Dall'analitico al digitale: nuovi sviluppi della fotogrammetria applicata all'ingegneria

di F. Crosilla, Luigi Mussio | CISM
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  • F. Crosilla, Luigi Mussio
  • CISM
  • Geodesia e cartografia
  • -
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  • EAN:
  • 242 p.
  • ITA
  • 9788885137042

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